מרכז מיקרוסקופיה

המרכז הטכניוני למיקרוסקופיית אלקטרונים של חומרים רכים הממוקם בפקולטה להנדסה כימית כולל שני מיקרוסקופי אלקטרונים חודרים (TEM) ומיקרוסקופ אלקטרונים סורק ברזולוציה גבוהה (HR-SEM).

 המיקרוסקופים זמינים לעבודה בטמפרטורת החדר, ובנוסף כולם מצוידים לעבודה בטמפרטורות נמוכות (Cryo-TEM and Cryo-SEM).

מיקרוסקופ האלקטרונים החודר החדש, מסוג טאלוס, כולל תותח אלקטרונים מסוג שוטקי FEG, מצלמת גלאי ישיר מסוג פאלקון המיועדת לדימות במנת אלקטרונים נמוכה וברזולוציה גבוהה, וכן Volta phase plates להגברת קונטרסט.

בטאלוס ניתן לעבוד גם כ STEM וכן לאפיון תלת-מימדי בשיטה של טומוגרפיית TEM ו- STEM. המעבדה מצוידת בציוד מתקדם להכנת דוגמאות בטמפרטורות נמוכות, כולל אולטראמיקרוטום, וfreeze fracture replication.

אחראית אקדמית: פרופ"ח תמר סגל-פרץ, tamarps@technion.ac.il

אחראי אקדמי: פרופ' ישעיהו (אישי) טלמון, ishi@technion.ac.il

מנהלת המרכז: אולגה סער קליינרמן, olgakl@technion.ac.il

טלפון: 073-378-2845